MEASURING OF EFFECTIVE RESOLUTION OF Σ-Δ ADC

机译：Σ-ΔADC的有效分辨率的测量

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Measurement and testing methodology for Σ-Δ Analog-to-Digital converters with nominal resolution 16 (24) bits is presented. The dependancies of effective resolution on the first notch frequency and gain are given.

机译：介绍了标称分辨率为16（24）位的Σ-Δ模数转换器的测量和测试方法。给出了有效分辨率对第一陷波频率和增益的依赖性。

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来源
《International Measurement Confederation XVI IMEKO World Congress (IMEKO 2000) Vol.10, Sep 25-28, 2000, Vienna, Austria》|2000年|p.183-184|共2页
会议地点 Vienna(AT);Vienna(AT);Vienna(AT);Vienna(AT)
作者
J. Holub; J. Vedral;
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作者单位

Department of Measurement, Faculty of Electrical Engineering Czech Technical University, Prague, Czech Republic;

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会议组织
原文格式 PDF
正文语种 eng
中图分类一般工业技术;
关键词
ADC; testing; Σ-Δ modulation;

机译：ADC;测试； Σ-Δ调制;
入库时间 2022-08-26 14:24:26

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