EDAX/TSL, 392 E. 12300 S., Draper, UT 84020 USA;
texture; electron backscatter diffraction; EBSD; orientation imaging microscopy; OIM;
机译:电子背散射衍射的极图分析-一种评估纤维化硅薄膜作为外延晶种层的有效方法
机译:FePd合金中X射线衍射和电子背散射衍射技术的变形织构比较
机译:借助电子背散射衍射分析熔融织构的YBCO的位置相关的织构
机译:常规光纤纹理分析技术在电子反向散射衍射中的适用性
机译:使用飞行时间中子衍射和电子背散射衍射进行定量纹理分析。
机译:用电子探针技术对石棉纤维进行元素分析
机译:电子背散射衍射(EBSD)对实验变形和脱水石膏生产的酪乳石转化纹理和晶体结构的分析