Chernivtsi National University, 2 Kotsubynsky Str., Chernivtsi, 58012, Ukraine;
ultrasound; diffraction contrast; microdefects; section topographs; structural perfection of crystals;
机译:X射线断层扫描法分析La3Ga5SiO14晶体中的声波场。
机译:表面声波扭曲的完美硅晶体的X射线衍射
机译:X射线衍射研究硅晶体中表面声波场的动力学理论方法
机译:硅晶体X射线地形中的声波
机译:同步加速器白束X射线形貌分析宽带隙半导体单晶的缺陷
机译:使用表面声波对高分子晶体进行精确操纵和蛋白质晶体构图
机译:同步辐射。 IV。同步辐射的物理性质研究。 6.使用成像板通过平面波X射线形貌的生长硅单晶的晶格变形分析。
机译:双晶X射线形貌技术在弯曲单晶硅中的微应变分析