National Institute of Standards technology Gaithersburg MD USA;
1/f noise; Tunneling; Interface states; Silicon carbide; Electron traps; Semiconductor device modeling;
机译:4H-SiC MOSFET中的低频噪声和界面陷阱的起源
机译:在4H-SIC MOSFET中漏极电流瞬变的起源和亚阈值扫描滞后
机译:SiC MOSFET的自持关断振荡:起源,不稳定性分析和预防
机译:SIC MOSFET中1 / F噪声的非隧道起源
机译:6H-αSiC的热氧化电钝化及其表征和在SiC MOSFET中的应用。
机译:负栅偏置SiC MOSFET的辐射响应
机译:基于Repetive短路应力下SiC功率MOSFET的低频噪声的陷阱分析
机译:JFET,mOsFET及相关器件中的闪烁噪声和热电子噪声研究