MST research center School of Mechanical Engineering Dalian University of Technology Dalian China;
longitudinal piezoelectric coefficient; atomic force microscopy; PZT; thin film; sol-gel;
机译:无优先取向的Pb(Zr_(0.50)Ti_(0.50))O_3薄膜的自极化效应
机译:在传统Pt / Ti / SiO / Si衬底上制备的无疲劳Pb_(1.10)Zr_(0.50)Ti_(0.50)O_3薄膜中观察到异常的开关行为
机译:在传统Pt / Ti / SiO / Si衬底上制备的无疲劳Pb_(1.10)Zr_(0.50)Ti_(0.50)O_3薄膜中观察到异常的开关行为
机译:Pb(Zr_(0.50),Ti_(0.50),Ti_(0.50))O_3薄膜的纵向压电系数(D_(33)),具有原子力显微镜
机译:通过原子力显微镜在聚合的10,12-壬二芥子酸的氮化硅,金和Langmuir-Blodgett膜的表面之间测量范德华力。
机译:氧响应对BiFe0.95Mn0.05O3薄膜的畴动态和局部电学特性的压电响应力显微镜和导电原子力显微镜研究
机译:依赖于成分的极化转换行为 (111) - 优选的多晶pb(Zr_ {x} Ti_ {1-x})O_ {3}薄膜
机译:pZT薄膜纵向压电211系数的测量与计算