SOKEN INC. Nisshin 470–0111 Japan;
Dept. of Electrical and Electronic Eng. Gifu University Gifu-shi 501–1193 Japan;
Scattering parameters; Estimation; Transmission line matrix methods; Gold; Mathematical model; Integrated circuit modeling; Solid modeling;
机译:密封封装无损原位S参数测量的递归非终止方法
机译:TAN校准的简单评估程序以及非理想校准元素对VNA S参数测量的影响
机译:并行进行大信号建模和测量:间接S参数方法的精确替代方法(特邀论文)
机译:具有递归程序的S参数的间接测量方法
机译:通过直接和间接方法测量有机土壤的选定热和物理性质
机译:基于集成递归方法的血压测量不确定度估算
机译:TAN校准的简单评估程序以及非理想校准元件对VNA S参数测量的影响