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Degradation analysis of individual emitters in 808nm QCW laser diode array for space applications

机译:太空应用中808nm QCW激光二极管阵列中单个发射极的降解分析

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摘要

Degradation analysis of 808nm QCW laser diode array for space application has been investigated by using individual emitter characterization technique. We found that homogeneity of electro-optical characteristics at emitter level along the bar is a relevant parameter to ensure the reliability of the bars. This work is focused on the importance of individual emitter characterization and aging test results analysis up to 4.47 Gshots.
机译:通过使用单独的发射极表征技术,研究了用于空间应用的808nm QCW激光二极管阵列的降解分析。我们发现,沿着条形在发射器级的电光特性的均匀性是确保条形可靠性的一个相关参数。这项工作着重于对单个发射极进行表征以及对高达4.47 Gshots的老化测试结果进行分析的重要性。

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