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電気透析における多孔質スペーサーを含む微視的数値計算による限界電流密度の算出

机译:电渗析中包含多孔垫片的微观数值计算的极限电流密度

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摘要

近年,多種多様な膜分離技術が用いられており,その中の一つにイオン交換膜を用いた電気透析法がある.図1に示す電気透析法は,イオンを含む溶液に電流を流すことでイオンの濃縮,希釈ができるため,海水の脱塩(1)や重金属の除去(2)などに応用されている.しかし,イオンが膜を通過することにより,膜近傍では濃度分極現象が発生する.すなわち,脱塩側ではイオン濃度が低下し,一方,濃縮側ではイオン濃度が増加する.この現象が進行すると,脱塩側の膜近傍ではイオンが無くなり,電流を流す上で必要となるイオンを補うために水の解離が発生してしまう.その結果として,膜の破損や消費エネルギーの増大を招くため,水が解離する最大電流密度値“限界電流密度”を予測することは,電気透析を行う上で重要な意味を持つ.これまでの研究を通して,多孔質構造体のスペーサーを電気透析内に挿入し,限界電流密度を引き上げることに成功した(3).しかし,スペーサーの最適形状を議論するには至っていない.そこで,本研究では,数値計算を用いたスペーサーを含む電気透析法の限界電流密度の推定法を提案する.多孔質スペーサーの微小構造体領域内の物質移動に着目した三次元数値シミュレーションにより限界電流密度の見積もりを行う.さらに,本シミュレーションの妥当性を検証するべく,これまでに得られた限界電流密度の測定結果と比較する.
机译:近年来,已经使用了各种膜分离技术,其中之一是使用离子交换膜的电渗析方法。图1所示的电渗析方法适用于海水(1)的脱盐和重金属(2)的去除,因为可以通过使电流流过含离子的溶液来浓缩和稀释离子。但是,当离子通过膜时,在膜附近会发生浓度极化现象。即,离子浓度在脱盐侧降低,而离子浓度在浓缩侧升高。随着这种现象的发展,离子在脱盐侧的膜附近消失,并且发生水离解以补充通过电流所需的离子。结果,膜将被破坏并且能量消耗将增加,因此预测水离解的最大电流密度值“极限电流密度”对于电渗析很重要。通过到目前为止的研究,我们通过在电渗析中插入多孔结构的间隔物成功地提高了极限电流密度(3)。然而,尚未讨论间隔件的最佳形状。因此,在这项研究中,我们提出了一种使用数值计算来估计包括隔离物的电渗析方法的极限电流密度的方法。通过三维数值模拟来估计极限电流密度,该数值模拟着重于多孔间隔物的微结构区域中的传质。此外,为了验证该模拟的有效性,将其与迄今为止获得的极限电流密度的测量结果进行比较。

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