Holcombe Dept of Electrical and Computer Engineering and Center for Silicon Nanoelectronics Clemson University Clemson, SC 29634-0915 U.S.A.;
机译:单晶片处理的沟槽-侧壁集成及其在用于真空监测的微谐振检测器中的应用
机译:基于水的单晶片Cu / Low-k清洗工艺表征并集成到双镶嵌工艺流程中
机译:单晶圆处理对半导体制造的影响
机译:单晶片处理对流程集成的影响
机译:CMOS缩放对单核应用中的硬故障容限和面向吞吐量的芯片多处理器中优化的吞吐量的微处理器内核设计的技术影响。
机译:全石墨烯湿度传感器的水基溶液处理和晶圆级集成
机译:水基单晶硅Cu / Low-k清洗工艺表征与双镶嵌工艺流程的集成
机译:在single211晶圆上制造流体微型网络的可集成工艺