Institute of Industrial Science, University of Tokyo, 4-6-1 Komaba, Meguro-ku, Tokyo 153-8505, Japan;
机译:1064 nm的光折射多量子阱
机译:使用光折变多量子阱装置通过光折变全息术进行高速宽场相干门控成像
机译:同时确定用于激光超声传感器的多量子阱光折变器件中的折射率和吸收光栅
机译:1064nm的光折射多量子阱装置及其在自适应振动测量中的应用
机译:环境对固态量子器件控制和测量保真度的影响。
机译:使用1064 nm光的血流弥漫性相关光谱测量
机译:使用光折变多量子阱装置通过光折变全息术进行高速宽场相干门控成像
机译:单片p-I-n多量子阱(mQW)光折变器件