Argonne National Laboratory 9700 South Cass Ave, Argonne, Il, 60439, USA;
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机译:通过XRD和EXAFS测量表征电子束沉积的HfO_2薄膜和(HfO_2:SiO_2)二元薄膜
机译:低能电子束测量铝薄膜厚度的仿真分析
机译:用缝束轮廓反射仪测量薄膜的厚度分布
机译:利用低收缩电子束测量锂薄膜厚度测量
机译:光电子能谱测量碳60和其他碳基材料薄膜的电子结构。
机译:超快电子衍射和瞬态光学测量观察到的过渡金属薄膜的电子和晶格动力学
机译:多光束干涉法测量薄膜厚度/
机译:多光束干涉法测量薄膜厚度