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【24h】

Stacking of Known Good Rebuilt Wafers without TSV Applications to memories and SiP

机译:在不将TSV应用到存储器和SiP的情况下堆叠已知的良好重建晶圆

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  • 来源
    《Device packaging 2010》|2010年|p.1-7|共7页
  • 会议地点 Scottsdale/Fountain Hills AZ(US)
  • 作者单位

    3D PLUSrn641, Rue Hélène Boucherrn78532 BUC – FrancernTel. + 33 1 30 83 26 50 –rnemail : cval@3d-Plus.com;

    3D PLUSrn641, Rue Hélène Boucherrn78532 BUC – France;

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  • 会议组织
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 制造工艺;
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