SAGE-ENISo, University of Sousse, 4023 Sousse Erriadh, Tunisia;
机译:评估热电子对功率RF LDMOS晶体管中关键参数漂移的影响
机译:用于高压集成电路的4H-SiC Resurf N-LDMOS晶体管的设计
机译:雷达施用S频段脉冲 - 射频老化寿命试验下功率N-LDMOS的RF性能可靠性
机译:电力RF N-LDMOS晶体管热电子效果的故障分析
机译:用于砷化镓异质结双极晶体管技术的完整片内实现的RFIC功率放大器自动硬件重构的门控包络反馈技术的分析和设计。
机译:低功率界面氧化栅极绝缘子氧化物薄膜晶体管
机译:热电子波动和晶体管性能:热敏效应