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机译:评估热电子对功率RF LDMOS晶体管中关键参数漂移的影响
ISSIG, University of Gabes, 6072 Gabes, Tunisia;
rnGPM-UMR CNRS 6634, University of Rouen, 76801 Saint Etienne du Rouvray, France;
机译:脉冲Rf的热和电老化后RF N〜-LDMOS关键电参数漂移的研究
机译:射频功率SOI-LDMOS晶体管中衬底效应的大信号分析
机译:由于热载流子效应,功率RF N-LDMOS器件的S参数性能下降
机译:功率RF N-LDMOS晶体管热电子效应的失效分析
机译:大信号电热LDMOSFET建模以及RF功率放大器中的热存储效应。
机译:基于无人机的无线中继网络海面漂流浮标系统
机译:大功率射频LDMOS晶体管的外在成分参数提取方法