Information Systems Laboratory, Department of Electrical Engineering, Stanford University, CA, USA 94305;
design for manufacturing; design for yield; statistical circuit sizing;
机译:一种用于优化随机活动网络的启发式方法,可应用于统计数字电路的尺寸确定
机译:使用栅极尺寸,栅极长度偏置和阈值电压选择来使数字电路的统计泄漏最小化
机译:使用栅极尺寸,栅极长度偏置和阈值电压选择来使数字电路的统计泄漏最小化
机译:一种统计数字电路尺寸的启发式方法
机译:嵌入式无源RF电路的布局级电路尺寸确定和可制造性设计方法。
机译:更正:群集大小统计和群集质量统计:两种新的方法用于识别组或条件之间的功能连通性的变化
机译:一种统计数字电路尺寸的启发式方法