首页> 外文会议>Design for manufacturability through design-process integration VI. >Yield impacting systematic defects search and management
【24h】

Yield impacting systematic defects search and management

机译:良率影响系统缺陷的搜索和管理

获取原文
获取原文并翻译 | 示例

摘要

Despite great effort before design tapeout, there are still some pattern related systematic defects showing up in production,which impact product yield. Through various check points in the production life cycle endeavor is made to detect thesedefective pa
机译:尽管在设计流片之前付出了很大的努力,但在生产中仍会出现一些与模式相关的系统缺陷,从而影响产品的良率。通过生产生命周期中的各个检查点,努力检测出这些缺陷

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号