GA; IR-Drop At-Speed Scan Testing; Launch Switching Activity; X-filling;
机译:基于GA的 X i>填充,可减少在快速扫描测试中朝特定目标的发射切换活动
机译:基于GA的X填充,可减少高速扫描测试中朝特定目标的发射切换活动
机译:使用CTX的高速扫描测试中的高启动开关活动减少:基于时钟门的测试松弛和X填充方案
机译:一种基于GA的高质量X填充方法,以减少在速度扫描测试中的发射切换活动
机译:测试点,部分扫描和全扫描触发器插入的信息理论和频谱方法,以提高集成电路的可测试性
机译:核酸内切酶V中错配切割的转换碱基偏好:扫描点突变的改进方法
机译:基于GA的X填充,可减少高速扫描测试中朝特定目标的发射切换活动
机译:基于扫描的切换测试