Fraunhofer Institut fuer Angewandte Festkoerperphysik, Tullastr. 72, 79108 Freiburg, Germany;
Fraunhofer Institut fuer Angewandte Festkoerperphysik, Tullastr. 72, 79108 Freiburg, Germany;
Fraunhofer Institut fuer Angewandte Festkoerperphysik, Tullastr. 72, 79108 Freiburg, Germany;
Siemens AG, Otto-Hahn-Ring 6, 81730 Munchen, Germany;
Siemens AG, Otto-Hahn-Ring 6, 81730 Munchen, Germany;
Fraunhofer Institut fuer Angewandte Festkoerperphysik, Tullastr. 72, 79108 Freiburg, Germany;
Fraunhofer Institut fuer Angewandte Festkoerperphysik, Tullastr. 72, 79108 Freiburg, Germany;
机译:使用光致发光成像鉴定4H-SiC外延层和衬底中的位错
机译:通过透射电子显微镜和光致发光表征在GaAs衬底上生长的外延ZnTe层
机译:通过X射线形貌直接观察从4H-SiC衬底传播到外延层的位错
机译:基质脱位对光致发光显微镜和地形研究的外延层的影响
机译:表面形貌对弹性体 - 水凝胶双层复合材料基材与沉降物种与刺激性表面形貌的影响
机译:Si(111)衬底和3C-SiC(111)外延层之间的错位界面的异常性质
机译:SI基板上的外延IV-VI层的滑行减少