机译:金属杂质吸收到残留在MeV离子注入和退火的硅的R_P / 2区域中的缺陷
机译:系统研究涉及初始杂质和辐照速率在用于HEP实验中的探测器中硅复杂缺陷的形成和演化中的作用
机译:冶金硅原料生长的多晶硅中缺陷和杂质的研究
机译:硅中缺陷和金属杂质相关的实际问题的系统分析
机译:高纯N型硅中金属杂质对少数载流子寿命的影响。
机译:在系统评价和荟萃分析中使用多个数据源的实用指南(以MUDS研究为例)
机译:系统研究涉及HEP实验中检测器中初始杂质和辐照速率在硅中复杂缺陷的形成和演化中的作用