Department of Engineering and System Science, National Tsing Hua University, Hsinchu, Taiwan. 30043;
atomic force microscopy; X-ray reflectivity; surface roughness;
机译:X射线反射率和原子力显微镜在表面粗糙度表征上的比较
机译:原子力显微镜与X射线反射率表征表面粗糙度的比较
机译:X射线反射率和原子力显微镜表征X射线和中子波导薄膜
机译:原子力显微镜与X射线反射率的比较对表面粗糙度的表征
机译:使用扫描隧道显微镜和原子力显微镜表征金表面有机单层:与宏观结构性质的关系
机译:原子力显微镜在木材上的附着力映射:表面粗糙度和尖端几何形状的影响
机译:椭圆光度法,原子力显微镜和X射线反射率表征接枝到镍上的聚丙烯腈薄膜