Centre d'Electronique et de Micro-optoelectronique de Montpellier (CNRS UMR 5507), Universite Montpellier II, 34095 Montpellier Cedex 5, France;
electronic noise; impedance field; langevin forces; nanometric devices;
机译:Langevin力和深亚微米器件噪声建模的广义传递场
机译:Langevin力和广义传递场,用于深亚微米器件中的噪声建模
机译:射频电磁场对电子设备上的测试的条件
机译:小型设备中电子噪声的非识别效应和转移字段
机译:基于无线电力传输技术的远场(辐射)充电电子设备技术。
机译:神经场中行进线的速度磁滞和噪声整形:局部电路和非局部连通性的作用
机译:深度亚微米器件中噪声建模的Langevin力和广义转移领域