Cypress Semiconductor, 2401 East 86th St, Bloomington, MN 55425;
contact edge roughness; CER; correlation length; CL;
机译:接触孔层的SEM图像边缘到边缘误差提取
机译:饥饿的EHL触点中的人造表面粗糙度变形
机译:通过缺陷审查SEM图像分析测试接触孔粗糙度的快速QC方法
机译:接触孔边缘粗糙度:圆圈与星星
机译:边缘距离,孔尺寸比和孔间距对具有多个孔的复合层压板峰值应力的影响。
机译:MRI偶然发现圆形隐形眼镜:您无法扫描我的扑克脸圆形隐形眼镜有潜在的MRI危害
机译:表面粗糙度对静电密封接触压力的影响(刀刃密封件的密封特性)。