Physikalisch-Technische Bundesanstalt, D-38116 Braunschweig, Germany;
microscopy; CD measurements; proximity effect;
机译:金属/电解质界面的多方法分析:扫描力显微镜(SFM),石英微量天平测量(QMB),傅立叶变换红外光谱(FTIR)和多晶硅上的掠入射X射线衍射仪(GIXD)
机译:扫描近场光学显微镜研究金纳米粒子一维线性阵列中增强光场的空间分布
机译:扫描透射电镜模式下大角度环形暗场研究Si fin场效应晶体管结构中的二维B掺杂分布
机译:交替的放牧入射暗场扫描光学显微镜用于尺寸测量
机译:扫描电子显微镜中同时进行的明场和暗场扫描透射电子显微镜:一种分析聚合物系统形态的新方法。
机译:通过氧析出测量原子力显微镜和扫描近场光学显微镜设计功能化脂质并证明其与光系统II核心复合物的结合。
机译:用狭缝探针测量光磁场的近场扫描光学显微镜的导模模式
机译:使用扫描近场光学显微镜观察d形光纤的消逝场特征