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A guided mode view on Near-field Scanning Optical Microscopy measurements of optical magnetic fields with slit probes

机译:用狭缝探针测量光磁场的近场扫描光学显微镜的导模模式

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摘要

Recent Near-field Scanning Optical Microscopy (NSOM) experiments with slit metal coated probes claim to measure the out-of-plane optical magnetic field around a dielectric sample waveguide [1]. The observations can also be explained by mode overlap calculations.
机译:最近使用裂口金属涂层探针进行的近场扫描光学显微镜(NSOM)实验声称可以测量电介质样品波导[1]周围的平面外光磁场。这些观察结果也可以通过模式重叠计算来解释。

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