Research Computing Center, Leninskie Gory, 199992, Moscow, Russia;
thin films; optical characterization; refractive index;
机译:使用与光谱反射率极值相关的波长确定非吸收性薄膜和弱吸收性薄膜的厚度和折射率的光谱依赖性
机译:具有双轴对称性的薄膜的折射率测量。 2.使用透明波长范围内的偏振透射光谱确定膜的厚度和折射率
机译:具有双轴对称性的薄膜的折射率测量。 2.使用透明波长范围内的偏振透射光谱确定膜的厚度和折射率
机译:可靠地确定薄膜折射率的波长依赖性
机译:复合折射率的亚波长调制和有机薄膜中的光学非线性
机译:从倾斜的光纤布拉格光栅光谱中提取的新参数用于确定折射率和截止波长
机译:通过棱镜-膜耦合测量确定薄膜的折射率,厚度和光学损耗
机译:椭偏法测定薄硒化物薄膜的折射率。