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用于确定样本介质的波长相关折射率的光显微镜和方法

摘要

通过使用根据本发明的方法,确定用光显微镜(100)检验的样本介质的波长相关折射率。使用所述光显微镜对具有未知折射率的样本介质进行样本测量。将照明光(22)照射到所述样本介质并且测量来自所述样本介质的检测光。借助所述样本测量来测量照明光和/或检测光的样本测量焦点位置。使用其中基于介质的折射率来表达照明光和/或检测光的焦点位置(25)的数学模型,从所述样本测量焦点位置导出所述样本介质的所述折射率。此外,描述了一种用于执行所述方法的光显微镜。

著录项

  • 公开/公告号CN108291870B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-06-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 卡尔蔡司显微镜有限责任公司;

    申请/专利号CN201680064947.6

  • 申请日2016-10-11

  • 分类号G01N21/41(20060101);G02B21/00(20060101);G02B21/24(20060101);G02B21/36(20060101);G01N21/27(20060101);

  • 代理机构11219 中原信达知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人鲁山;孙志湧

  • 地址 德国耶拿

  • 入库时间 2022-08-23 11:59:29

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