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Simulation, fabrication and characterization of 6500V 4H-SiC power DMOSFETs

机译:6500V 4H-SiC功率DMOSFET的仿真,制造和表征

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摘要

doped drift epilayer. In this paper, the simulation, the fabrication, and the electrical characteristics of 4H-SiC DMOSFETs were reported. A peak effective channel mobility of 20 cm
机译:掺杂漂移外延层。本文报道了4H-SiC DMOSFET的仿真,制造和电学特性。有效通道迁移率峰值为20厘米

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