BIAS - Bremer Institut fuer angewandte Strahltechnik Klagenfurter Str. 2 28359 Bremen;
BIAS - Bremer Institut fuer angewandte Strahltechnik Klagenfurter Str. 2 28359 Bremen University of Bremen Faculty of Physics and Electrical Engineering Applied Optics Otto Hahn Allee 1 28359 Bremen Germany;
deflectometry; shearography; nondestructive testing;
机译:相移数字剪切技术评估三明治表面缺陷的破坏
机译:低级别稀疏主成分热成像(稀疏-PCT):对地下缺陷检测的比较评估
机译:相位调制组合偏转测量小缺陷检测
机译:偏转尺寸和牧草检测的比较研究
机译:开发结构化照明反射率成像系统,以增强对苹果果实表面和表面缺陷的检测。
机译:脱细胞真皮移植物与丙烯网无论是否加载BM-MSC修复大鼠颅骨缺损的比较研究:组织学和免疫组织化学研究
机译:加载方法和参数对数字剪切成像中缺陷检测的影响
机译:用电子剪切技术检测涂层缺陷的可能性