Mechanical Engineering Department, Carnegie Mellon University, Pittsburgh, PA 15213;
机译:使用误差率模型确定薄膜磁记录头的窄读取宽度
机译:写入电流导致薄膜磁记录头中的自加热
机译:带读取头阵列的带磁记录通道的混洗多磁道检测
机译:磁记录读头的自热建模
机译:用于超高密度磁记录的高级读取头材料。
机译:表征垂直磁记录记录头的磁足迹的方法
机译:微磁学在磁记录中的应用IV:记录写头的记录场和磁化分析(2)