双层膜垂直磁记录MR头读出过程的理论分析

摘要

从理论上分析了双层膜孤立垂直磁化ＭＲ头的读出过程。结果发现，若采用双层膜垂直磁记录介质与ＭＲ头相耦合使用，则可实现比单层膜垂直磁化介质记录更高的记录道密度。这有利于提高记录面密度。