Department of Electrical Engineering, Rajiv Gandhi Institute of Technology, Kottayam;
Department of Electrical Engineering, Government Engineering College, Idukki;
Logic gates; MOSFET; Silicon carbide; Silicon; Switching loss; Switches; Resistance;
机译:背栅SSGOI和SSOI MOSFET亚阈值特性的分析建模和仿真:比较研究
机译:改善SiC CDMOSFET中栅极可靠性的设计与仿真
机译:仿真研究意外掺杂对双栅极MOSFET I-V特性的影响
机译:使用TLP250模拟SIC MOSFET特性及门驱动卡设计的仿真研究
机译:1.2 kV 4H-SiC平面栅极功率MOSFET的设计,分析和优化,用于改进的高频切换
机译:4H-SIC双沟MOSFET采用分流异质结闸用于改善开关特性
机译:新型SiC栅极控制双极场效应复合晶体管动态和静态特性的仿真研究