Imec, Kapeldreef 75, B-3001 Leuven, Belgium;
CMOS; contact resistivity; in situ doping; laser annealing; silicide; transmission line model;
机译:通过n型掺杂控制溶液处理的基于HfOX的电阻式开关存储器件的电阻式开关行为
机译:通过n型掺杂控制溶液处理的基于HfOX的电阻式开关存储器件的电阻式开关行为
机译:子-<内联公式>
机译:在SI设备上启用(子)1E-9 OHM.CM2接触电阻率的过程选项
机译:III-V半导体处理:触点,蚀刻和器件。
机译:通过批量原子层沉积处理的基于HfO2的集成式1晶体管1电阻阻性随机存取存储器的材料见解
机译:增强深度亚微米器件的低电阻率TISI2接触的形成
机译:低温电阻欧姆接触中等掺杂的n-Gaas,低温处理