Dept. of Electr. Eng. Technion, Technion - Israel Inst. of Technol., Haifa, Israel;
机译:超越一致的重构:广义采样的最优和锐度界,并应用于统一的重采样问题?
机译:改进的广义级数方法:在稀疏fMRI中的应用
机译:正则化广义特征分解及其在稀疏监督特征提取和稀疏判别分析中的应用
机译:GSURS:具有应用于MRI的普遍稀疏均匀重新采样
机译:重采样统计在扩散张量MRI分析中的应用
机译:稀疏的非阴性广义PCA及其在代谢组学中的应用
机译:超越一致的重建:最优和极限 广义抽样,以及对均匀重采样问题的应用
机译:非均匀FFT在傅里叶变换光谱中的光谱重采样中的应用