University of Freiburg, Georges-K#x00F6;
hler-Allee 51, 79110 Freiburg, Germanyc;
ATPG; Interconnect opens; SMT; test generation; unknown values;
机译:地面反弹约束下的最佳互连ATPG
机译:ATPG用于电流模式阈值逻辑电路中的延迟缺陷
机译:用于小延迟缺陷的高质量过渡故障ATPG
机译:高效的基于SMT的ATPG,用于互连打开缺陷
机译:一种新的ATPG算法,可生成紧凑的测试集,以检测VLSI电路中的静态和动态缺陷。
机译:有限元撕裂和互连方法对纳米级光阱的有效预测和分析
机译:地面反弹约束下的最佳互连ATPG
机译:导电,耐腐蚀涂层通过金属互连的缺陷化学。 (最终报告,2004年10月1日 - 2006年12月31日)