Institute for Semiconductor Technology and Nanoelectronics, Technische Universit#x00E4;
t Darmstadt, Schlo#x00DF;
gartenstra#x00DF;
e 8, 64289, Germanyc;
atomic force microscopy; carbon nanotube field-effect transistor; carbon nanotubes; catalytic chemical vapor deposition; power device application;
机译:原子力显微镜/扫描电容显微镜在半导体器件注入结构成像中的应用
机译:原子力显微镜与扫描电子显微镜相结合调查电子设备的研制
机译:通过分子束外延在Si(001)和Ge(001)衬底上生长的SiGe外延层的结构研究:Ⅱ-透射电子显微镜和原子力显微镜
机译:用于电力设备的多CNTFET应用:通过原子力显微镜检查CCVD生长CNT
机译:原子力显微镜研究ACTFEL显示设备中的薄膜粗糙度和设备性能
机译:利用同时扫描隧穿/原子力显微镜研究在铜箔上生长的CVD石墨烯
机译:基于先进的原子力显微镜技术,用于纳米级表征用于新兴神经形态应用的开关装置
机译:原子力显微镜和扫描隧道显微镜与组合原子力显微镜/扫描隧道显微镜