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An atomic force microscopy investigation of film roughness and device performance in ACTFEL display devices

机译：原子力显微镜研究ACTFEL显示设备中的薄膜粗糙度和设备性能

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作者
Rascon, Joseph Gerarde.;
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作者单位

The University of Texas at El Paso.;

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授予单位 The University of Texas at El Paso.;
学科 Electrical engineering.
学位 M.S.
年度 1996
页码 107 p.
总页数 107
原文格式 PDF
正文语种 eng
中图分类语言学;
关键词

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