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An atomic force microscopy investigation of film roughness and device performance in ACTFEL display devices

机译:原子力显微镜研究ACTFEL显示设备中的薄膜粗糙度和设备性能

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著录项

  • 作者

    Rascon, Joseph Gerarde.;

  • 作者单位

    The University of Texas at El Paso.;

  • 授予单位 The University of Texas at El Paso.;
  • 学科 Electrical engineering.
  • 学位 M.S.
  • 年度 1996
  • 页码 107 p.
  • 总页数 107
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 语言学 ;
  • 关键词

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