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【24h】

Back-Focal-Plane Interferometry for 3D Position Tracking in Optical Tweezers

机译:用于光学镊子中3D位置跟踪的后焦平面干涉术

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摘要

A far-field interferometry is presented to track the 3D positions of an optically trapped particle. This method can resolve the displacement within nanometers by measuring the intensity shift in the back-focal-plane of the lens which is introduced by the interference between the outgoing laser beam and scattered light from the trapped particle. Factors that affect its characteristics are elaborately analyzed using approximate formula and FDTD stimulation. Also, we propose a valid method to minimize the thermal noise that introduced by Brownian motion of the trapped particle.
机译:提出了一种远场干涉测量技术,用于跟踪光学捕获粒子的3D位置。该方法可以通过测量透镜的后焦平面中的强度偏移来解决纳米级内的位移,该强度偏移是由出射激光束与来自被捕获粒子的散射光之间的干涉引起的。使用近似公式和FDTD刺激精心分析了影响其特性的因素。此外,我们提出了一种有效的方法来最大程度地减少由捕获粒子的布朗运动引入的热噪声。

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