Institute of Microelectronics, A#x2217;
STAR (Agency for Science, Technology and Research), 11 Science Park Road, Singapore;
机译:基于硅中介层(TSI)和无硅互连技术(SLIT)的3D IC封装可靠性研究
机译:TSV(硅通孔)对3D IC集成系统级封装(SiP)的热性能的影响
机译:考虑跨学科互动的大型电缆挖掘机结构与控制系统的多学科共设计优化
机译:通过硅插入器(TSI)高性能系统共设计优化
机译:通过集群在3D IC平面上进行动态通硅,用于早期性能优化
机译:不同嵌入式系统和开源优化包的性能分析朝向冲动的MPC人工胰腺
机译:面向高性能计算系统的硬件/软件协同设计的性能/弹性工具