Infineon Technologies Asia Pacific Pte. Ltd, 168 Kallang Way Singapore 349253;
机译:模型中Cu丝和Au焊丝粘接在模型状态下的电迁移可靠性的比较与机制
机译:表面清洁度对金丝在金,铜和铝垫上的超声球键合能力的影响
机译:腐蚀诱导的Cu-Al界面在Hast条件下Cu-Al接口的降解及其机理研究
机译:影响裸CU线表面条件的线键和模塑因子
机译:在引线键合技术中,研究低k裸片上直径为0.8密耳(20微米)的金键合引线的球形键合完整性。
机译:轻质CNT-Cu复合线的电性能受表面和内部Cu空间分布的影响
机译:Cu丝缝合粘接的研究。 (报告1)。粘合条件和表面态对粘合性的影响。