Institute of Microelectronics, Peking University, Beijing 100871, China;
机译:利用瑞利分布研究高k /金属门功函数的变化
机译:Si pMOSFET在压缩和拉伸应变下NBTI降解行为的实验研究
机译:EAST欧姆等离子体中能量限制降解阶段高k湍流的实验研究
机译:周期到周期变化效应对NBTI降解预测的影响及高k MOSFET中的动态变化
机译:通过原子层沉积进行金属栅/高k电介质堆叠工程:材料问题和电性能。
机译:栅堆叠结构和工艺缺陷对32 nm工艺节点PMOSFET中NBTI可靠性的高k介电依赖性的影响
机译:纳米可靠性时代规模化高κ/金属门技术中NBTI寿命终止变异设计的新见解