Semiconductor Research Laboratory Department of Electrical and Computer Engineering 130 Hudson Hall, Duke University, Durham 27708-0291, NC, USA;
finite element methods; thin film; gold; young's modulus; poisson's ratio;
机译:
机译:使用细长悬臂梁测量机械性能
机译:使用细长悬臂梁测量机械性能
机译:使用热驱动的双金属悬臂梁的薄膜金的力学性能测量
机译:用于微/纳米悬臂梁热性能测量的热反射技术
机译:热力载荷下3D打印ABS悬臂梁损伤定量的现场动态响应测量
机译:用细长悬臂梁测量力学性能
机译:热中子束密度的测量nI:使用氦-3比例计数器的精确测量II:用于确定中子束密度的金箔激活方法的校正