Instituto de Microelectrónica de Sevilla -Centro Nacional de Microelectrónica - Consejo Superior de Investigaciones, Científicas, Spain;
aerospace electronics; mixed-signal ASICs; radiation hardening;
机译:0.35微米CMOS技术的低功耗,快速单光子计数ASIC CLARO-CMOS的辐射硬度测试和表征
机译:CLARO-CMOS:一种快速,低功耗,抗辐射能力强的前端ASIC,用于采用0.35微米CMOS技术的单光子计数
机译:ALDO:采用0.35μmCMOS技术的耐辐射,低噪声,可调低压降线性稳压器
机译:奥地利摩洛州的辐射表征0.35μmCMOS技术
机译:互补的EDMOS晶体管以标准的0.35μmCMOS技术集成在40V应用中。
机译:0.35μmCMOS SPAD的设计表征和分析
机译:奥地利微电子公司0.35 µm CMOS技术的辐射特性