Institute of Microelectronics, Tsinghua University, Beijing 100084, P. R. China;
机译:通过扫描链划分提高基于扫描的BIST的测试有效性
机译:关于提高基于扫描的BIST的测试质量
机译:基于扫描的BIST故障诊断中最佳确定性分区的构建:数学基础和具有成本效益的实现
机译:通过扫描链划分提高基于扫描的BIST的测试质量
机译:用于基于扫描的统计时序缺陷测试的成本降低和测试质量控制。
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机译:使用通用测试应用方案提高基于扫描的BIST的测试质量
机译:基于扫描的切换测试