二维材料的制备及其在透射电镜下的成像表征

摘要

本文采用超声离心分散法制得厚度比较薄的BN、MoS2、WS2纳米片，然后利用透射电子显微镜对二维纳米片进行了高分辨成像表征，以及电子衍射和内部微观缺陷，以及电子辐照对材料的影响。