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Feko在近场扫描中的应用

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近场扫描是确定电子器件电磁干扰源的一种重要方法.本文基于Altair公司的Feko软件,仿真了磁场探头对一待测器件上方磁场的近场扫描过程,并对有探头的扫描场和无探头的仿真场进行了对比.结果表明扫描场与仿真场具有很好的一致性,体现了Feko软件强大的电磁仿真性能.

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来源
《2019 Altair 技术大会》|2019年|1-6|共6页
会议地点上海
作者
张家深;
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作者单位

澳汰尔工程软件（上海）有限公司;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类基础理论;
关键词
电子器件; 电磁干扰源; 近场扫描; 仿真分析;

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