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Yuejuan YU; 于跃娟; Bing TENG; 滕冰; Degao ZHONG; 钟德高; Jianhong LI; 李建宏; Jiangtao MA; 马江涛; Wanxia HUANG; 黄万霞;
中国仪器仪表学会仪表功能材料学会;
重庆市科协;
磷酸二氢铵晶体; 生长过程; 位错缺陷; 包裹体缺陷; 过饱和度;
机译:在表面融化的情况下晶体生长:柱状冰晶生长的过饱和度依赖性
机译:低过饱和度下的晶体生长是否受到趋于最小化的表面自由能的影响?
机译:稳态条件下溶液中晶体生长的表面过饱和度数值模拟中的加速收敛
机译:SiC中晶体生长和缺陷形成过程的多层次模拟研究SiC中晶体生长和缺陷形成过程的多层次模拟研究
机译:在4H-碳化硅PVT生长的块状晶体,CVD生长的外延层和器件中的缺陷研究。
机译:自动晶体生长系统恒定过饱和度的研究
机译:电子态理论与半导体缺陷复合物的形成能,间隙缺陷和晶体生长。
机译:新型光活化NADH,NADPH,NAD或NADP类似物,可用于研究细胞或组织酶的时间分辨光谱和晶体学机制
机译:监测单个晶体生长的观测机制观察结晶的生长界面和包括单个晶体的不同角度的单个晶体生长的装置
机译:缺陷例如晶体生长缺陷,光刻掩模,即掩模版的检测方法,以产生例如集成电路,涉及检查图像集上的缺陷以评估图像中重复缺陷的存在
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