首页> 中文会议>第十五届全国半导体集成电路、硅材料学术会议 >一种评估ESD防护器件性能的TCAD方法论

一种评估ESD防护器件性能的TCAD方法论

摘要

ESD(静电放电)防护器件不仅需要有丰富的设计经验,还需要有科学的TCAD(工艺计算机辅助设计)评估方法论。以对CDM(器件充电模式)下SCR(可控硅)防护器件防护性能评估为例,提出了一种旨在客观评估ESD防护器件性能的新颖的TCAD评估方法论。这种TCAD仿真方法论侧重对ESD防护器件中更有价值的瞬态行为进行评估。结果表明,该TCAD方法论收敛性良好,能够对ESD防护器件的性能进行科学评估,对ESD防护器件的设计具有很强的指导作用。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号