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张国炳;
中国电子学会;
金属薄膜;
机译:SiO2-Si基板上VLSI互连的基于S参数测量的高速信号瞬态特性
机译:自由基OP·(OPr〜i)_2,Me_3C·和Me(CH_2)_3C·H_2加至甲醇[60]富勒烯C_(60)CX〜1X2(X〜1 = X〜2 = COE_2Et; X〜1 =СО_2Ме,X〜2
机译:用显微光谱KP和X射线衍射研究石墨和其他一些sp〜2碳材料的结构
机译:一种非接触式测量技术来测量微观表面应力并通过单图像光衍射法测量基于微悬臂式结构的LNM阶的变形谱
机译:残余应力(应力)的X射线衍射测量:能量色散X射线残余应力测量。
机译:来自肌肉衍射研究的椭圆偏振光测量理论。
机译:短脉冲应力条件下VLsI互连故障模式的微观分析
机译:用于光学互连,开关,massivememories和光学特性的光折变光纤的研究
机译:基于S参数测量的SiO2-Si衬底上VLSI互连的高速信号瞬态特性
机译:应力特性的测量方法,应力特性的测量装置以及应力特性的测量系统
机译:应力特性测量方法,应力性能测量装置和应力特性测量系统
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