光电耦合器的常见失效模式及案例

摘要

本文从光电耦合器的结构以及性能参数入手,对光电耦合器基于光、电的常见失效模式进行了介绍,并对这两方面的失效分析常见技术手段进行了对比.之后本文以LTV816D3光电耦合器的一例光电传输系数下降为0的失效案例为例,分别从电学失效分析与光学失效分析入手,采用了包括图示仪检测、X-射线检测、光发射显微镜检测等失效分析方法,对光电耦合器的失效分析提供了思路,对于其他类似电子元器件的失效分析也有参考作用.