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近场微波显微镜对石墨烯的无损检测研究

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本文基于近场扫描微波扫描显微镜的基本原理,搭建了一套高效测量石墨烯薄膜材料电磁特性的系统.近场扫描微波显微镜是利用探针靠近样品时,记录谐振腔的品质因数或谐振频率的偏移量,然后通过软件仿真探针样品模型的方法得到样品的介电常数、电导率等物理量,以非接触的方式无损表征了石墨烯薄膜的材料特性.

著录项

来源
《第十八届全国微波能应用学术会议》|2017年|104-107|共4页
会议地点成都
作者
Peng Kun; 彭坤; Wu Zhe; 吴喆; Yang Shan; 杨山; Liu Jianlong; 柳建龙; Zeng Baoqing; 曾葆青;
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作者单位

中国电子学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类特种结构材料;
关键词
石墨烯薄膜; 电磁特性; 无损检测; 微波扫描显微镜;
入库时间 2022-08-17 11:15:51

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